金屬粉末激光粒度儀

激光粒度儀在金屬粉末粒度及粒度分布檢測中的應用

      金屬粉末是粉末冶金工業的原料，金屬粉末原材料主要包括鐵、鎢、鉬、銅、鈷、鎳、鈦、鉭、鋁、錫、鉛、錳等粉末，比重約占金屬粉末總產量的2/3以上。此外還包括以上金屬相關化合物粉末等。其粒度直接影響到粉末的加工成形、燒結時收縮和產品的性能。某些粉末冶金制品的性能和粒度甚至*相關。隨著國家標準GB/T21779-2008《金屬粉末和相關化合物粒度分布的光散射試驗方法》的出臺，激光粒度儀在粉末冶金行業應用越來越普遍。金屬粉末激光粒度儀是一款符合國家標準的激光粒度儀，專門用于檢測技術粉末的粒度及粒度分布。傳統激光粒度儀多以濕法為主要檢測方式，其主要優點是測試穩定，隨著干法粒度儀的不斷改進和發展，更加便捷的干法粒度儀越來越受到企業的青睞。更多激光粒度儀詳情廈門易仕特儀器有限公司黃工。

LAP-DW1250金屬粉末激光粒度儀主要性能特點：

*的光路設計：LAP-DW1250采用會聚光傅立葉變換測試技術保證在比較短的焦距獲得大量程，有效提高儀器的分辨能力；*的高密度探測單元，讓LAP-DW1250擁有了*的小顆粒測試能力，高密度探測單元使用LAP-DW1250具有*的全量程無縫測試能力。
雙光路設計：0.01微米測量采用了雙光路設計，測量范圍為0.01微米到1250微米，輔助激光器采用了藍光405納米激光器。（選配）
干、濕一鍵切換：干濕切換將由儀器自動完成，全部過程10s內完成。
主探測器Z向自動移動：干濕切換后因光學玻璃的介入會導致會聚光焦距變化，LAP-DW1250會根據干、濕法的不同自動調整主探測器，使主探測器始終在焦平面上。
大口徑鏡頭：大口徑傅里葉變換鏡頭，更有效實現光信號傅里葉變換，更準確、更有效。
防干燒超聲：LAP-DW1250實現了樣品池無水保護，避免損壞超聲；同時超聲功率在0到100瓦范圍內可調節。
防塵、防震設計：儀器整體進行了密封設計，大幅提高了內部元器件使用壽命。*的懸浮式結構能有效避免外界震動對儀器的干擾，使結果測試更穩定可靠。
強防腐設計（選配）：根據耐客戶實際需求可以配備耐酸、耐堿、耐油（含一切溶劑油）。
進口光纖半導體激光器：LAP-DW1250采用了高穩定、長壽命的進口大功率光纖輸出半導體激光器，優良的單色性及穩定性讓LAP-DW1250擁有了*的測試重復性。
自動對中：自行研制的自動對中系統包括步進電機、精密導軌、精密控制器以及軟件系統組成，較小步距1微米，保證激光束焦點始終從探測器中心點穿過，提高測試結果的準確性以及測試的重復性。自動對中系統是易仕特所有型號激光粒度儀的標準配置。
*微量循環系統：整個分散循環系統進行了優化設計，分散介質大于150毫升即可循環測試，真正達到了微量循環測試；所有接頭采用了速插快擰設計，短時間內即可更換全部管道；優化的設計保證排水后無廢夜殘留，保證了下一次測試結果的準確性。
超寬量程：LAP-DW1250量程干法達到了0.1μm～1250μm、濕法0.01μm～1250μm。
免排氣泡設計：全新的設計使整個測試過程不會有氣泡進入測試樣品窗，避免了氣泡干擾。
樣品無殘留設計：儀器管道及排水結構進行了優化設計，儀器管道、循環泵內無積液殘留，避免對下一次測試數據的影響；干法測試同樣進行了無殘留設計。
干法計算機遠程控制喂料：LAP-DW1250干法測試時測試人員可通過電腦遠端控制喂料速度，大大減少了測試人員的勞動強度。
樣品窗快換裝置：全新設計的樣品窗快換裝置，使樣品窗更換更方便快捷。
軟件：符合藥典GMP規定，具有電子簽名、權限設置、數據追蹤、數據不可更改等功能。
于制藥行業客戶，可以提供3Q認證。
主要技術參數：

規格型號：LAP-DW1250

執行標準：ISO 13320-1:1999；GB/T19077.1-2008

測試范圍：濕法0.1μm -1250μm    干法0.1μm -1250μm

探測器通道數：濕法96            干法86

準確性誤差：干法：＜1%（國家標準樣品D50值）

濕法：＜1%（國家標準樣品D50值）

重復性誤差：干法：＜1%（國家標準樣品D50值）

濕法：＜0.5%（國家標準樣品D50值）

免排氣泡：具備免排氣泡設計，無氣泡干擾數據更準確

誤操作保護：儀器具備誤操作自我保護功能，儀器對誤操作不響應

激光器參數：進口光纖輸出大功率激光器 λ= 650nm,  p>10mW

鏡頭：進口佳能鏡頭

操作模式：干、濕法軟件一鍵式全自動操作

光路校準：光路自動校準

測試速度：<1min/次（不含樣品分散時間）

易仕特主營產品包括干法激光粒度儀，濕法激光粒度儀，，噴霧激光粒度儀，圖像粒度分析儀，固體密度計，液體密度計，在線密度計，快速水分測試儀，粉末測試儀器等等檢測設備。 更多激光粒度儀詳情廈門易仕特儀器有限公司黃工。